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[Thèse]

Caractérisation électrique et modélisation des phénomènes de piégeage (BTI, LFN) affectant la fiabilité des technologies CMOS nanofils 10nm et en deçà

Offre N° : SL-DRT-15-1133

Date de début : 1 Oct 2015

Dans lestechnologies CMOS avancées (Nanofils,la présence de défauts aux interfaces ou dans l'oxyde de grille, inhérents au procédé de fabrication, ou induits par le vieillissement de ces dispositifs dégrade fortement les performances des transistors ; en augmentant fortement le bruit basse fréquence (LFN) et « Random Telegraph Noise » (RTN). Dans les transistors intégrant des nouveaux matériaux SiGe, III-V, ces défauts microscopiques sont plus nombreux que sur silicium et largement méconnus.



[Thèse]

Etude des architectures transistors avancés pour le CMOS sub-7nm

Offre N° : SL-DRT-15-0816

Date de début : 1 Mar 2015

Le contexte de la thèse est d'adresser les principaux enjeux de la microélectronique et la compréhension de la physique du fonctionnement des transistors au-delà du noeud 7nm. Cela consiste en l'étude de dispositifs de longueur de grille de l'ordre de 10 nm avec trois challenges principaux :

- Le contrôle électrostatique des transistors CMOS

- La performance en termes compromis entre courant délivré et capacités parasites (performances statique et dynamique)



[Thèse]

Accélération matérielle pour la cryptographie homomorphe

Offre N° : SL-DRT-15-0179

Date de début : 1 Oct 2015

L'émergence du cloud computing et des systèmes cyber-physiques a fait de la sécurité dans le traitement des données un enjeu majeur. Dans l'optique d'assurer la confidentialité des données manipulées, l'utilisation de la cryptographie est aujourd'hui largement répandue.



[Thèse]

Caractérisation des performances et de la fiabilité de microphones M&NEMS

Offre N° : SL-DRT-15-0125

Date de début : 1 Oct 2015

Un nouveau concept de microphones basé sur la technologie M&NEMS révolutionne la manière de concevoir ce type de dispositif. Le concept M&NEMS permet de traiter séparément la détection et la transduction électrique, et présente une architecture totalement innovante. L'étude approfondie de ces composants permettra d'évaluer les limites de leurs performances. On fera en particulier porter l'effort sur les mécanismes permettant de réduire les bruits.



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