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[Thèse]

Traitements avancés pour imageur RX de couleur avec numérisation dans le pixel

Offre N° : SL-DRT-15-0542

Date de début : 1 Sep 2015

Depuis quelques années, on constate un intérêt croissant pour des nouveaux détecteurs capables de mesurer l'énergie des rayons X en imagerie dans le domaine de la santé ou de la sécurité. Par rapport aux techniques de radiographie standard, l'imagerie de couleur apporte une information quantitative sur la nature des matériaux imagés : densité, numéro atomique effectif.



[Thèse]

Etude des préparations de surface des matériaux III-V et Ge en vue de leur intégration dans les transistors CMOS sub 7 nm

Offre N° : SL-DRT-15-1002

Date de début : 1 Sep 2015

Si la réduction continue des dimensions des circuits intégrés selon la loi de Moore a longtemps suffi à l'amélioration des performances du transistor CMOS, cette voie se heurte à d'immenses challenges pour les nœuds sub 10 nm. Des technologies alternatives sont donc nécessaires pour poursuivre l'amélioration des technologies CMOS.



[Thèse]

Templates de matériaux nitrures semi-polaires pour l'émission visible à courte longueur d'onde

Offre N° : SL-DRT-15-0538

Date de début : 1 Sep 2015

Les matériaux semiconducteurs nitrures d'éléments III sont utilisés pour la réalisation de diodes bleues au coeur des lampes à LEDs. L'utilisation de ces matériaux pour les plus grandes longueurs d'onde(verte-rouge)est cependant limitée, en raison de l'existence d'un champ électrique interne piezoélectrique qui sépare spatialement les électrons et trous dans les zones actives(puits quantiques)de la diode, réduisant l'efficacité radiative.



[Thèse]

Méthodes statistiques de reconstruction tomographique multi-énergies pour des systèmes de détection spectrométriques

Offre N° : SL-DRT-15-0541

Date de début : 1 Sep 2015

La tomographie à rayons X (CT) est une technique bien maitrisée qui fournit des informations volumiques sur l'objet examiné, avec des applications tant dans le domaine du diagnostic médical que du contrôle de pièces industrielles ou de la sécurité. Les avancées des détecteurs semi-conducteurs spectrométriques permettent une évolution de cette technique, l'obtention de volumes plus contrastés et spécifiques en matériau.



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