Offres de thèses, stages et postdocs
425 résultats trouvés
[Thèse]
Fluctuations mésoscopiques du courant dans le régime de réflexions d'Andreev multiples
Offre N° : 2321
Date de début : 7 Sep 2010
La possibilité de changer le signe des corrélations croisées du courant dans les nanostructures à plusieurs terminaux a suscité beaucoup d'intérêt durant la dernière décennie, autant du point de vue théorique qu'expérimental. En effet, alors que les corrélations croisées sont toujours négatives dans les systèmes fermioniques sans interaction, des corrélations positives révèlent la présence de fortes interactions dans les systèmes à N corps.
La possibilité de changer le signe des corrélations croisées du courant dans les nanostructures à plusieurs terminaux a suscité beaucoup d'intérêt durant la dernière décennie, autant du point de vue théorique qu'expérimental. En effet, alors que les corrélations croisées sont toujours négatives dans les systèmes fermioniques sans interaction, des corrélations positives révèlent la présence de fortes interactions dans les systèmes à N corps. De plus, une thématique importante de la nanoélectronique quantique consiste à envisager de générer des paires EPR (Einstein-Podolsky-Rosen) d'électrons intriqués dont la mise en évidence se ferait par des mesures de corrélations de courant.
Le but de la thèse sera de caractériser en détail les processus élémentaires du transfert des charges dans les nanostructures hybrides quantiquement cohérentes avec plusieurs terminaux supraconducteurs, quand le transfert de charge est dû aux réflexions d'Andreev multiples. Le travail portera sur le couplage entre l'effet Josephson AC et le courant dissipatif de quasiparticules, sur les corrélations de courant résolu en spin et leur relation avec un diagnostic d'intrication en spin, ainsi que sur les larges fluctuations du courant entre différents échantillons qui peuvent se produire dans ces systèmes.
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[Thèse]
Transport électronique et dynamique de l'aimantation dans les structures hybrides supraconductrices/ferromagnétiques
Offre N° : 2322
Date de début : 1 Sep 2010
Grâce à l'effet de proximité, un supraconducteur (S) peut transmettre certaines de ses caractéristiques à un métal normal ou ferromagnétique (F). Dans les structures S/F, l'incompatibilité des propriétés de spin entre les deux matériaux est responsable de plusieurs phénomènes inhabituels, dont une oscillation spatiale de la fonction de corrélation induite. Celle-ci est à l'origine des oscillations du courant critique des jonctions Josephson S/F/S quand l'épaisseur de la couche F varie.
Grâce à l'effet de proximité, un supraconducteur (S) peut transmettre certaines de ses caractéristiques à un métal normal ou ferromagnétique (F). Dans les structures S/F, l'incompatibilité des propriétés de spin entre les deux matériaux est responsable de plusieurs phénomènes inhabituels, dont une oscillation spatiale de la fonction de corrélation induite. Celle-ci est à l'origine des oscillations du courant critique des jonctions Josephson S/F/S quand l'épaisseur de la couche F varie. Des domaines magnétiques non-colinéaires peuvent aussi induire un effet de proximité à longue portée. Ces résultats supposent une configuration statique de l'aimantation. L'objectif de la thèse sera d'étudier théoriquement les propriétés nouvelles qui apparaissent lorsque l'aimantation varie dans le temps.
On abordera l'effet de la dynamique de l'aimantation sur le transport électronique dans des jonctions S/F et S/F/S. On s'intéressera notamment au cas où la fréquence de précession de l'aimantation résonne avec la fréquence Josephson ou la fréquence d'une excitation alternative. On poursuivra avec l'étude du couplage entre la dynamique de la phase supraconductrice et de l'aimantation. L'étude menée permettra de mieux comprendre les mécanismes élémentaires de transfert et relaxation du spin dans ces structures, avec des applications éventuelles pour la spintronique.
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[Thèse]
Contribution à l'étude des phénomènes mis en jeu du collage direct à basse température de couches métallique et oxyde métalliques.
Offre N° : 2303
Date de début : 1 Oct 2010
Le collage direct est un phénomène physique qui permet à deux surfaces d'adhérer spontanément sans ajout de matière. Ce phénomène a été extensivement étudié en recherche et des entreprises telles que SOITEC ou TRACIT commercialisent des produits basés sur cette technologie. Des recherches encore actives ont permis d'implémenter les modèles physico chimiques permettant une meilleure compréhension de ce phénomène d'adhérence .
Le collage direct est un phénomène physique qui permet à deux surfaces d'adhérer spontanément sans ajout de matière. Ce phénomène a été extensivement étudié en recherche et des entreprises telles que SOITEC ou TRACIT commercialisent des produits basés sur cette technologie. Des recherches encore actives ont permis d'implémenter les modèles physico chimiques permettant une meilleure compréhension de ce phénomène d'adhérence . Cependant, ces modèles ne traitent actuellement que des surfaces silicium où d'oxyde de silicium et ne prennent en compte que l'aspect chimique des surfaces.
Actuellement, pour des applications innovantes du photovoltaïque, de l'intégration tridimensionnelle ou de l'électronique de puissance, il est impératif de disposer d'une technique de report de film ou de circuit à l'aide d'un collage direct conducteur électriquement (avec connections localisées ou non) et dissipatif thermiquement. Le collage par couche métallique est alors un excellent candidat.
Nous souhaitons dans le travail de thèse proposé, aboutir à un modèle physico chimique de ce type de collage direct en utilisant de nouvelles couches de collage métalliques et oxyde métalliques.
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[Thèse]
Caractérisation in-line et étude des déformations spatiales et contraintes créées lors de procédés de fabrication de MEMS à l'origine de leur endommagement et fissuration.
Offre N° : 2301
Date de début : 1 Dec 2010
L'augmentation des performances des microsystèmes passe par la diminution de leur taille. Cela entraine une augmentation des contraintes mécaniques et des déformations auxquels ils sont soumis. Il y a donc une réelle nécessité de caractériser et de surveiller les déformations des Microsystèmes et de relier ces évolutions à leurs performances et leur intégrité au moment de la fabrication. .
L'augmentation des performances des microsystèmes passe par la diminution de leur taille. Cela entraine une augmentation des contraintes mécaniques et des déformations auxquels ils sont soumis. Il y a donc une réelle nécessité de caractériser et de surveiller les déformations des Microsystèmes et de relier ces évolutions à leurs performances et leur intégrité au moment de la fabrication. . L'objectif de la thèse est de mettre en œuvre une boîte à outils de caractérisation (technique + modèle) qui pourrait être utilisé In-Line pour suivre les changements de dimension et les propriétés mécaniques des Microsystèmes et de leurs matériaux constitutifs. Un travail complémentaire consistera à réaliser des simulations numériques pour comprendre les effets des conditions de fabrication sur l'évolution des propriétés mécaniques des MEMS.
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