MINA-NEWS - Numéro 16 - Octobre 2011
Le black silicon américain scruté à Grenoble
Quand le MIT confie à une équipe grenobloise l’observation d’un de ses matériaux de pointe, on peut s’en réjouir ! C’est ce qui se produit depuis le début 2011 avec le black silicon, un silicium fortement dopé en sélénium qui présente d’excellentes propriétés d’absorptivité optique. Les chercheurs américains ont confié au Leti des échantillons à analyser en tomographie 3 D sur l’un des microscopes électroniques TITAN de la PFNC. Objectif : scruter les dopants avant et après recuit, étape technologique incontournable lors de l’élaboration du black silicon.
Les premiers résultats ont montré la formation de précipités de sélénium aux joints de grains. La collaboration permet aussi à des doctorants du MIT et du Leti de faire connaissance, au travers de visites des installations respectives.
Contact : pierre.bleuet@cea.fr
