Étude de la fiabilité des photo-détecteurs à avalanche 3D

Publié le : 14 mars 2021

STMicroelectronics développe de nombreuses technologies CMOS destinées à l’imagerie. L’essor et la démocratisation des capteurs d’image entrainent une diversification des usages technologiques tels que l’imagerie à haute résolution et la télémétrie à usage domestique et pour l’automobile. Un des enjeux est de répondre aux besoins du marché et de s’adapter à la concurrence en améliorant sans cesse les performances et la fiabilité des dispositifs.

L’objectif de cette thèse est d’étudier et de modéliser la fiabilité des photodétecteurs à avalanche pour la détection de photon unitaire. Le principe de ce capteur réside dans la capacité à mesurer le temps de transit entre une source optique et le détecteur, de quelques centimètres à plusieurs dizaines de mètres tout en étant insensible à la lumière environnante. Une matrice constituée de milliers de pixel permet de restituer une image 3D fidèle de la cible. A ce jour, de premiers essais montrent que le détecteur se dégrade au cours du temps, conduisant en une perte de sensibilité et en la dégradation de la précision de mesure. Quantifier ces effets et comprendre ces dérives est absolument nécessaire pour améliorer le procéder de fabrication et développer un modèle prédictif de fiabilité.

La thèse se focalisera à part égale entre la fiabilité d’un pixel unitaire et la fiabilité d’une matrice de pixels, ceci pour se rapprocher de la fiabilité produit. Le candidat s’appuiera un ensemble d’outils de caractérisation, de mesure de la fiabilité, ainsi que sur des outils de modélisation et simulation développés chez STMicroelectronics.

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