Imageurs CMOS visibles : un banc de test universel

Catégorie(s) : Actualités, Recherche

Publié le : 6 octobre 2014

Sensibilité, dynamique, courant d’obscurité, bruits, facteur de conversion, rendement quantique, linéarité, résolution, rémanence : toutes les performances des imageurs CMOS visibles peuvent être testées sur le banc de mesure développé au Leti. Il complète les tests électriques actuels sur structures unitaires, et permet l’affichage d’images en temps réel.
Pour mener à bien leurs études, les chercheurs ont développé leur propre solution en associant un système de pilotage numérique avec FPGA, une carte analogique de conditionnement des signaux et un système de LEDs pulsées, le tout orchestré par un séquenceur de test Labview. Le banc de mesure a été validé avec un composant de 3,3 millions de pixels. Il est notamment utilisé pour caractériser de nouvelles générations d’imageurs.

Contact : nicolas.billon.pierron@cea.fr

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