Offres de thèses, stages et postdocs

141 résultats trouvés

[Thèse]

Encapsulation de micro-systèmes MEMS en impression 3D

Offre N° : SL-DRT-15-0771

Date de début : 1 Oct 2015

La micro-électronique étend ses champs d'applications via les micro-systèmes complexes, comportant des capteurs, des récupérateurs d'énergie, des modules de communication performants. Ces micro-systèmes doivent être protégés de leur environnement par une encapsulation pouvant intégrer une connectique ou des fonctionnalités particulières.



[Thèse]

Caractérisation in-operando de dispositifs avancés par spectroscopie de photoélectrons

Offre N° : SL-DRT-15-0473

Date de début : 1 Oct 2015

Aujourd'hui les progrès technologiques rendent possible la caractérisation en temps réel de dispositifs en cours de fonctionnement. Cette analyse est fondamentale car elle permettra de comprendre les mécanismes physico-chimiques mis en jeu lorsqu'on soumet un dispositif à une sollicitation thermique (inter-diffusions d'éléments), électrique (création de canaux de conduction) ou chimique.



[Thèse]

Modélisation des dispositifs pour l'électronique de spin : nouvelles mémoires magnétiques à base de réseau de nanofils à section circulaire

Offre N° : SL-DSM-15-0361

Date de début : 1 Oct 2015

La spintronique utilise le spin de l'électron pour interagir avec l'aimantation. Elle permet de créer de nano-composants avec des fonctionnalités nouvelles (tels que les émetteurs radiofréquence pour la téléphonie mobile ou mémoires vives d'ordinateurs).



[Thèse]

Etude des états de surface inter-pixels dans les détecteurs semi-conducteurs de rayons X pour l'imagerie médicale

Offre N° : SL-DRT-15-0373

Date de début : 1 Oct 2015

Dans le cadre de ses activités en imagerie médicale, le LETI développe depuis plusieurs années une nouvelle technologie de détecteurs à base de matériaux semi-conducteurs CdTe/CdZnTe dans le but de proposer de nouvelles performances en imagerie pour des applications radiologie ou scanner (détection X), gamma caméra (détection gamma) et contrôle non destructif (détection X).



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