Actualités : Mesures physiques

15 décembre 2020

Développement des techniques de Microscopie à Force Atomique pour la caractérisation de matériaux piézo-électriques semi-conducteurs – Applications en conversion d’énergie

Description du projet : Les nanofils (NF) piézo-électriques semi-conducteurs (GaN et ZnO entre autres) présentent des propriétés piézoélectriques améliorées par rapport aux couches minces et au matériau massif, du fait de leur plus grande flexibilité et de leur sensibilité à des forces plus faibles. Une amélioration intrinsèque des coefficients piézoélectriques a également été identifiée par […] >>