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La Plateforme de nanocaractérisation (PFNC) a créé un cluster de 4 techniques de microscopie de surface à l’état de l’art, pour réaliser différentes analyses d’un échantillon sans exposer ce dernier à l’air libre. Il passe d’un équipement à l’autre sous atmosphère contrôlée ou sous vide poussé.
Ces techniques sont complémentaires en termes d’information dispensée (élémentaires, chimiques et structurales) et d’échelle explorée (du nanomètre au millimètre).
Le cluster comprend trois microscopes par spectrométrie d’électrons (XPS et Auger), deux en champ proche (AFM-KFM) et un par spectrométrie ionique (ToF-SIMS). L’équipe PFNC définit au cas par cas les techniques à employer. Les échantillons analysés : matériaux pour batteries lithium, électronique (in-)organique, biosystèmes etc.


Contact : olivier.renault@cea.fr

 

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